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Leica DM8000/12000 M 工业显微镜
8''/12''晶圆表面缺陷检测
徕卡DM8000/12000 M全新的光学设计,可以提供宏观模式快速初检,以及倾斜紫外光路功能(OUV, 倾斜紫外观察模式) 不单提升了分辨率还提高了检查8/12英寸(200/300毫米)硅片的产能。
最新的 LED 照明技术 一体化设计并整合在显微镜上. 低热辐射和机身内一体化技术确保了最理想的机身外空气流动状态。低能耗的节电设计大大延长了使用寿命,符合绿色环保的理念。
一键式的操控设计使用户可以轻易地完成倍率转换和相关的照明和相衬效果。
如果您需要帮助,请联系我们!
产品特点
产品应用
所有显微镜对比法
专利倾斜光照明 立体呈现表面微观形貌
徕卡DM2700 M灵活的正置显微镜系统在所有对比法中均使用了 LED 照明:明场(BF)、暗场(DF) 、微分干涉差(DIC)、定性偏振 (POL)或荧光(FLUO)应用。它还提供了内置式倾斜照明,能够提高表面形貌和缺陷的可视度。徕卡DM2700 M金相显微镜还能够根据情况装配透射光轴。
可选择三种显微镜物镜转轮 - 外加一个0.7x的宏物镜,您能通过它一眼看见约40mm长的一个样本,是进行快速定位和概览的理想选择。
能够从徕卡显微镜载物台的完备产品线中,为大小达到100 x100mm的样本(例如箔片、晶片和 PCB)以及厚度达到80mm的样本(例如机械元件)找到一种理想的载物台进行检查。
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