Leica EM TXP 精研一体机

 

徕卡EM TXP 标靶面制备系统具有定点修块抛光功能,是用锯,磨,铣削,抛光样品后,供扫描电镜,透射电镜,和LM技术检测。

 

带有一体化体视镜,用于精确定位及对较细微难以观察的目标位置进行样品处理时观察;使用样品旋转手柄,可以改变样品观察角度,0°-60°可调,或者垂直于样品前表面90°观察,可利用目镜刻度标尺测量距离。

需要帮助

如果您需要帮助,请联系我们!

相关产品

    • 服务热线

    • 技术服务:0755-25312375
    • 销售服务:0755-25312375
    • 服务时间

    • 周一至周五 9:00-18:00
    • 关注我们