贝嘉技术SEMI-e 2024圆满收官,为半导体检测领域提供解决方案

 

2024年6月26日-6月28日,为期3天的SEMI-e第六届深圳国际半导体展在深圳国际会展中心(宝安新馆)4、6、8号馆圆满收官!本届展会以“芯”中有“算”•智享未来为主题,全面展示半导体行业的新技术、新产品、新亮点、新趋势,展期3天总到会观众超过79,586人次。本次展会贝嘉技术携带贝嘉工具显微镜、金相显微镜、徕卡超景深3D显微镜、体视镜、晶圆缺陷检测显微镜、台式电镜等设备与观众现场沟通交流,探讨半导体检测领域解决方案。

通过此次展会,贝嘉技术不仅向业内展示了最新的检测设备及解决方案,也加深了与半导体行业的联系和合作。未来,贝嘉将不断提升自身的技术实力和服务能力,持续提供更优质的产品和服务,为光学检测领域贡献一份力量。

 

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