-
首页
-
产品中心
- 光学显微镜
- 正置显微镜
- 倒置显微镜
- 体式与宏观显微镜
- 视频显微镜
- 超景深三维显微镜
- 软件及配件
- 显微镜定制解决方案
- 金相制样设备
- 测量显微镜
- MH手动系列
- MHF半电动系列
- MM全电动系列
- 软件及配件
- 影像测量仪
- 标准影像测量
- 高精度影像测量仪
- 超高精度影像测量仪
- 激光检测仪
- 线宽测量仪
- 一键闪测仪
- 扫描电镜及制样方案
- 台式扫描电镜
- EM TXP精研一体机
- 徕卡三离子束切割仪
- 徕卡超薄切片机
- 其他检测设备
- 贝嘉全自动晶圆缺陷检测分析系统
- 3D智能轮廓测量仪
-
应用领域
-
服务与支持
- 技术支持
- 专业知识
- 产品选型
- 定制开发
- 文档资料
- 产品资料
- 操作指导
- 售后服务
- 操作指导
- 配件
-
关于贝嘉
- 关于我们
- 公司概况
- 发展历程
- 资质和荣誉
- 企业文化
- 总经理致辞
- 新闻
- 公司新闻
- 行业新闻
- 展会活动
- 联系我们
- 联系方式
- 合作
-
首页
-
产品中心
- 光学显微镜
- 正置显微镜
- 倒置显微镜
- 体式与宏观显微镜
- 视频显微镜
- 超景深三维显微镜
- 软件及配件
- 显微镜定制解决方案
- 金相制样设备
- 测量显微镜
- MH手动系列
- MHF半电动系列
- MM全电动系列
- 软件及配件
- 影像测量仪
- 标准影像测量
- 高精度影像测量仪
- 超高精度影像测量仪
- 激光检测仪
- 线宽测量仪
- 一键闪测仪
- 扫描电镜及制样方案
- 台式扫描电镜
- EM TXP精研一体机
- 徕卡三离子束切割仪
- 徕卡超薄切片机
- 其他检测设备
- 贝嘉全自动晶圆缺陷检测分析系统
- 3D智能轮廓测量仪
-
应用领域
-
服务与支持
- 技术支持
- 专业知识
- 产品选型
- 定制开发
- 文档资料
- 产品资料
- 操作指导
- 售后服务
- 操作指导
- 配件
-
关于贝嘉
- 关于我们
- 公司概况
- 发展历程
- 资质和荣誉
- 企业文化
- 总经理致辞
- 新闻
- 公司新闻
- 行业新闻
- 展会活动
- 联系我们
- 联系方式
- 合作
共 12 篇文章
-
控制药品中的微粒污染
采用激光光谱设备进行微粒快速目视检查和化学分析本文阐述了如何使用光学显微镜和激光诱导击穿光谱(LIBS)相结合的二合一方法识别制药行业中的微粒污染物。药物和静脉注射溶液等药品的微粒污染可能会导致严重问题。为消除药品微粒污染,最重要的是能够快速、准确地
넶4 2023-03-17 -
徕卡EM TIC3X三离子束切割抛光仪在地质样品中的应用
用于扫描电镜分析的地质样品有油页岩、煤层、矿石、土壤和沉积物等多种类型,而对这些样品进行制样处理的主要操作就是获得一个无损伤的平整面。机械切割和机械磨抛很难避免处理过程中造成样品的微观组织破坏和磨料污染现象。特别是在扫描电镜高放大倍数的形貌观察下,地
넶4 2023-03-17 -